InstitucionesÁrea de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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Exploration of noisy data in differential electronic nose
Stanislaw Osowski, Krzysztof Siwek, Tomasz Grzywacz
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 35, Nº 4 (Special Issue: ISTET 2015), 2016, págs. 1382-1392
Object shape virtualization in impedance tomography
Tomasz Grzywacz, Jan Sikora, Stefan Wójtowicz
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 28, Nº Extra 1 (Special Issue: Selected Papers from ISTET 2007), 2009, págs. 221-230
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