Periodo de publicación recogido
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Operational frequency degradation induced trapping in scaled GaN HEMTs
Brendan Ubochi, Soroush Faramehr, Khaled Ahmeda, Petar Igić, Karol Kalna
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 35-40
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