Periodo de publicación recogido
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A defect-oriented test approach using on-Chip current sensors for resistive defects in FinFET SRAMs
G.C. Medeiros, L. Bolzani Poehls, Mottaqiallah Taouil, F. Luis Vargas, Said Hamdioui
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 355-359
A.F. Gomez, F. Lavratti, G. Medeiros, M. Sartori, L. Bolzani Poehls, V. Champac, F. Vargas
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 67, 2016, págs. 150-158
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