Gang Wang

• Artículos de revistas (8)

• Artículos de revistas

  • A unified procedure for the vibration analysis of elastically restrained Timoshenko beams with variable cross sections

    Gang Wang, Wen L. Li, Wanyou Li, Zhihua Feng, Junfang Ni

    Noise Control Engineering Journal, ISSN 0736-2501, Vol. 68, Nº. 1, 2020, págs. 38-47

    • Resumen
    

  • The influence analysis of curvature on transverse vibration of multi-curved shafting based on numerical and experimental results

    Gang Wang, Haijun Zhou, Wanyou Li, Zhihua Feng, Junfang Ni

    Noise Control Engineering Journal, ISSN 0736-2501, Vol. 67, Nº. 2, 2019, págs. 98-107

    • Resumen
    

  • Distributed Leaderless and Leader-Following Consensus Control of Multiple Euler-Lagrange Systems with Unknown Control Directions

    Gang Wang, Chaoli Wang, Xuan Cai, Yunfeng Ji

    Journal of intelligent & robotic systems: Theory & applications, ISSN 0921-0296, Vol. 89, Nº. 3-4, 2018, págs. 439-463

    

  • A reverse hysteresis effect of graphene transistors with amorphous silicon gate dielectric

    Qingwei Zhang, Ping Li, Yongbo Liao, Gang Wang, Rongzhou Zeng, Heng Wang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 85, 2018, págs. 118-121

    • Resumen
    

  • Lifetime estimation of IGBT modules for MMC-HVDC application

    Longjun Wang, Jiayou Xu, Gang Wang, Zheng Zhang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 90-99

    • Resumen
    

  • Microstructures and properties of Bi10Ag high temperature solder doped with Cu element

    Limeng Yin, Dong Li, Zongxiang Yao, Gang Wang, Adrian Blackburn

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 79-84

    • Resumen
    

  • Distributed Cooperative Control of Multiple Nonholonomic Mobile Robots.

    Gang Wang, Chaoli Wang, Qinghui Du, Lin Li

    Journal of intelligent & robotic systems: Theory & applications, ISSN 0921-0296, Vol. 83, Nº. 3-4, 2016, págs. 525-541

    

  • Investigation into sand mura effects of a-IGZO TFT LCDs

    Xiang Liu, Hehe Hu, Ce Ning, Guangliang Shang, Wei Yang, Ke Wang, Xinhong Lu, Woobong Lee, Gang Wang, Jianshe Xue, Jung mok Jun, Shengdong Zhang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 148-151

    • Resumen
    

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