Periodo de publicación recogido
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Junji Sakamoto, Ryoma Hirata, Tadahiro Shibutani
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 85, 2018, págs. 19-24
Nucleation and shrinkage of defects on the surface of tin induced by local strain distribution
Tadahiro Shibutani, Jing Wen Sun
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 119-123
Junji Sakamoto, Hisakazu Ohara, Tadahiro Shibutani
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 29-34
A fusion prognostics-based qualification test methodology for microelectronic products
Michael Pecht, Tadahiro Shibutani, Myeongsu Kang, Melinda Hodkiewicz, Edward Cripps
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 320-324
Michael Pecht, Tadahiro Shibutani, Lifeng Wu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 62, 2016, págs. 113-123
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