Área de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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An enhanced MOSFET threshold voltage model for the 6–300 K temperature range
Nguyen Cong Dao, Abdallah El Kass, Mostafa Rahimi Azghadi, Craig T. Jin, Jonathan Scott, Philip H.W. Leong
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 36-39
The Big BIM battle: BIM adoption in the UK for large and small companies
Jake Loveday, Tahar Kouider, Jonathan Scott
Healthy Buildings: Innovation, Design & Technology, ICAT 2016 / coord. por Antonio Galiano Garrigós, Tahar Kouider, 2016, págs. 53-66
Andrew Shaw, Marianthy Leon, Jonathan Scott
Healthy Buildings: Innovation, Design & Technology, ICAT 2016 / coord. por Antonio Galiano Garrigós, Tahar Kouider, 2016, págs. 67-94
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