InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Thermal lifetime estimation method of IGBT module considering solder fatigue damage feedback loop
Bing Gao, Fan Yang, Minyou Chen, Yigao Chen, Wei Lai, Chao Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 51-61
Xingmou Liu, Yongming Yang, Fan Yang, Qingyan Shi
Ingeniería e Investigación, ISSN-e 2248-8723, ISSN 0120-5609, Vol. 36, Nº. 1, 2016, págs. 90-97
A genetic algorithm‐based improved charge simulation method and its application
Fan Yang, Wei He, Wendong Deng, Tao Chen
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 28, Nº 6 (Special Issue: Selected Papers from ICSC 2008), 2009, págs. 1701-1709
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