Periodo de publicación recogido
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Investigation of MBE grown inverted GaAs quantum dots
Ákos Nemcsics, Bálint Pődör, Lajos Tóth, János Balázs, László Dobos, János Makai, Márton Csutorás, Antal Ürmös
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 59, 2016, págs. 60-63
On the shape formation of the droplet epitaxial quantum dots
Ákos Nemcsics
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 73-77
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