InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Xiong Du, Jun Zhang, Gaoxian Li, Heng Ming Tai, Pengju Sun, Luowei Zhou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 69-78
Monitoring chip fatigue in an IGBT module based on grey relational analysis
Shengqi Zhou, Luowei Zhou, Litao Yu, Sucheng Liu, Quanming Luo, Pengju Sun, Junke Wu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 49-52
Sucheng Liu, Luowei Zhou, Weiguo Lu, Anxin Li
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 31, Nº 4 (Special Issue: Selected papers from EHE 2011), 2012, págs. 1246-1258
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