Periodo de publicación recogido
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Xiong Du, Jun Zhang, Gaoxian Li, Heng Ming Tai, Pengju Sun, Luowei Zhou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 69-78
Heng Ming Tai, Changyou Jing
IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 84, Nº 5, 2001, págs. 1280-1287
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