Periodo de publicación recogido
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Key-one Ahn, Se Hoon Park, Young-Ho Kim
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 1-10
Se Hoon Park, Jong Chul Park, Jae-Yong Park, Young-Ho Kim
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 194-200
The emergence of a multiscalar growth regime and scalar tension: : the politics of urban development in Songdo New City, South Korea
HaeRan Shin, Se Hoon Park, Jung Won Sonn
Environment and Planning C: Government and Policy, ISSN-e 1472-3425, Vol. 33, Nº. 6, 2015, págs. 1618-1638
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