Periodo de publicación recogido
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Yuling Niu, Jing Wang, Shuai Shao, Huayan Wang, Hohyung Lee, S.B. Park
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 81-88
Jing Wang, Yi-xi Cai, Xiao-hua Li, Yun-fei Shi, Ya-chao Bao, Jun Wang, Yun-xi Shi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 113-123
Jing Wang, Ruiyang Liu, Dapeng Liu, Seungbae Park
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 73, 2017, págs. 42-53
Dapeng Liu, Jing Wang, Ruiyang Liu, S.B. Park
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 109-115
Zhen-Hua Liu, Jie Yi, Jing Wang
Applied thermal engineering, ISSN 1359-4311, Vol. 23, Nº 1, 2003, págs. 89-99
Effects of Ozone pre-deposition treatment on GaSb MOS capacitors
Zhen Tan, Linfeng Zhaob, Ning Cui, Jing Wang, Jun Xu
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices / Héctor García (aut.), Helena Castán Lanaspa (aut.), 2013, ISBN 9781467346665
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