InstitucionesAclaración de materia/profesión
Periodo de publicación recogido
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Sensitivity analysis of the backprojection imaging method for seismic event location
Cristian Alexis Murillo, William Mauricio Agudelo Zambrano
CT&F - Ciencia, tecnología y futuro, ISSN-e 0122-5383, Vol. 11, Nº. 1, 2021, págs. 21-32
Svd polarization filter taking into account the planarity of ground roll energy
Iván-Javier Sánchez-Galvis, Jheyston-Omar Serrano-Luna, Carlos Andrés Niño Niño, Daniel-A Sierra, William Mauricio Agudelo Zambrano
CT&F - Ciencia, tecnología y futuro, ISSN-e 0122-5383, Vol. 6, Nº. 3, 2016, págs. 5-24
Estimation of density and fracture orientation in HTI media through azimuth alanalysis of P-waves
Diana Marcela Cortes Gómez, William Mauricio Agudelo Zambrano, Luis Alfredo Montes Vides
CT&F - Ciencia, tecnología y futuro, ISSN-e 0122-5383, Vol. 5, Nº. 3, 2013, págs. 5-18
Julián Andrés Vargas Parra, María Teresa Duarte, Carlos Andrés Peréz Solano, Germán Yury Ojeda Bueno, William Mauricio Agudelo Zambrano
Ingeniería Investigación y Desarrollo: I2+D, ISSN-e 2422-4324, ISSN 1900-771X, Vol. 10, Nº. 2, 2010 (Ejemplar dedicado a: julio-diciembre de 2010), págs. 2-18
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