Periodo de publicación recogido
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Redundant Design for Wallace Multiplier
Kazuteru Namba, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 9, 2006, págs. 2512-2524
Proposal of Testable Multi-Context FPGA Architecture
Kazuteru Namba, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 5, 2006, págs. 1687-1693
Scan Design for Two-Pattern Test without Extra Latches
Kazuteru Namba, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 12, 2005, págs. 2777-2785
Deterministic Delay Fault BIST Using Adjacency Test Pattern Generation
Kazuteru Namba, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 9, 2005, págs. 2135-2142
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