Periodo de publicación recogido
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Bit Error Rate Measurement of a Measuring System Designed for Superconducting Digital Circuits
I. Yoshida, Akira Fujimaki, H. Hayakawa, K. Shimaoka, S. Tokunaga, M. Nemoto
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 1, 2001, págs. 29-34
Ramp-Edge Josephson Junctions Using Barriers of Various Resistivities
H. Hayakawa, M. Horibe, K. I. Kawai, Akira Fujimaki
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 10, 1998, págs. 1526-1531
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