Bit Error Rate Measurement of a Measuring System Designed for Superconducting Digital Circuits

• Autores: I. Yoshida, Akira Fujimaki, H. Hayakawa, K. Shimaoka, S. Tokunaga, M. Nemoto
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 1, 2001, págs. 29-34
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)