Periodo de publicación recogido
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Fast testable design for SRAM-based FPGAs
Abderrahim Doumar, Toshiaki Ohmameuda, Hideo Ito
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 83, Nº 5, 2000, págs. 1116-1127
Dynamic constructive fault tolerant algorithm for feedfoward neural networks
Nait Charif Hammadi, Toshiaki Ohmameuda, Keiichi Kaneko
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº. 1, 1998, págs. 115-123
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