D.T. Franco
Periodo de publicación recogido
|
|
|
|
|
-
Artículos de revistas
Signal probability for reliability evaluation of logic circuits.
D.T. Franco, M.C. Vasconcelos, L. Naviner, J.-F. Naviner
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1586-1591
Relevant metrics for evaluation of concurrent error detection schemes.
M.C.R. De Vasconcelos, D.T. Franco, J.-F. Naviner, L.A.B. Naviner
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1601-1603
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
