Signal probability for reliability evaluation of logic circuits.

• Autores: D.T. Franco, M.C. Vasconcelos, L. Naviner, J.-F. Naviner
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1586-1591
• Idioma: inglés
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