J. Guastavino

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• Artículos de revistas

  • Kelvin probe microscopy for reliability investigation of RF-MEMS capacitive switches.

    A. Belarni, M. Lamhamdi, P. Pons, L. Boudou, J. Guastavino, Y. Segui, G. Papaioannou, R. Plana

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1232-1236

    

  • Voltage and temperature effect on dielectric charging for RF-MEMS capacitive switches reliability investigation.

    M. Lamhamdi, P. Pons, U. Zaghloul, L. Boudou, F. Coccetti, J. Guastavino, Y. Segui, G. Papaioannou, R. Plana

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1248-1252

    

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