Voltage and temperature effect on dielectric charging for RF-MEMS capacitive switches reliability investigation.

• Autores: M. Lamhamdi, P. Pons, U. Zaghloul, L. Boudou, F. Coccetti, J. Guastavino, Y. Segui, G. Papaioannou, R. Plana
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1248-1252
• Idioma: inglés
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