Josip Huljev
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Artículos de revistas
La capacidad de disipación de potencia de los ICs: revisión de los conceptos fundamentales de la fatiga térmica, como clave de la fiabilidad de los circuitos integrados
Josip Huljev, Charles Carinalli
Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 535, 1999, págs. 76-79
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