La capacidad de disipación de potencia de los ICs: revisión de los conceptos fundamentales de la fatiga térmica, como clave de la fiabilidad de los circuitos integrados

• Autores: Josip Huljev, Charles Carinalli
• Localización: Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 535, 1999, págs. 76-79
• Idioma: español
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• Resumen

  • Revisión de los conceptos fundamentales de la fatiga térmica, como clave de la fiabilidad de los circuitos integrados.