Periodo de publicación recogido
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Classification of high-voltage varistors into groups of differentiated quality.
L. Hasse, A Konczakowska, J. Smulko
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1483-1490
Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality.
A Konczakowska
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 1, 2008, págs. 37-44
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