P.J. van der Wel
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Artículos de revistas
Effect of oval defects in GaAs on the reliability of SiNx metal¿insulator¿metal capacitors.
P.J. van der Wel, J.R. De Beer, R.J.M. Van Boxtel, Y.Y. Hsieh, Y. C. Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1188-1194
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