Periodo de publicación recogido
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B. Qi, M. Yang, B. Cong, F. Liu
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 66, Nº. 9-12, 2013, págs. 1545-1553
F. Liu, G. Meng, M. Zhao, J.f. Zhao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 1, 2009, págs. 79-85
X.C. Tan, F. Liu, D.C. Liu, Liange Zheng, H.Y. Wang, Y.H. Zhang
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 33, Nº. 11-12, 2007, págs. 1256-1262
Reliability assessment of the metallized film capacitors from degradation data.
J. Zhao, F. Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 434-436
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