Periodo de publicación recogido
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Analysis of punch-through breakdown in bulk silicon RF power LDMOS transistors.
I. Cortés, P. Fernández-Martínez, D. Flores, Salvador Hidalgo Villena, J. Rebollo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 2, 2008, págs. 173-180
M. Vellvehí, D. Flores, J. Millán, Xavier Jordá Sanuy
Mundo electrónico, ISSN 0300-3787, Nº 294, 1999, págs. 42-47
Semiconductores de potencia: tiristores bidireccionales para protección de equipos telefónicos
D. Flores, Justino Fernández Díaz, Salvador Hidalgo Villena, Xavier Jordá Sanuy
Mundo electrónico, ISSN 0300-3787, Nº 288, 1998, págs. 40-43
Diseño y fabricación de dispositivos bidireccionales para protección de telefonía
D. Flores, X. Jordà, Salvador Hidalgo Villena, J. Fernández, J. Millán, I. Mazarredo, I. Sierra
SAAEI '98: V Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación, Universidad Pública de Navarra, Pamplona, 15-18 de septiembre de 1998, 1998, ISBN 84-89654-11-5, págs. 265-268
Modelo electrotérmico del transistor VDMOS de potencia para su simulación con SPICE
X. Jordà, D. Flores, Philippe Godignon, M. Vellvehí, J. Rebollo, J. Millán
SAAEI '98: V Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación, Universidad Pública de Navarra, Pamplona, 15-18 de septiembre de 1998, 1998, ISBN 84-89654-11-5, págs. 563-566
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