Periodo de publicación recogido
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Jiangbo Pu, Youcong Jiang, Xiaobo Xie, Xiaogang Chen, Ming Liu, Shengpu Xu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 180-186
Study of total ionizing dose induced read bit errors in magneto-resistive random access memory
Haohao Zhang, Jinshun Bi, Haibin Wang, Hongyang Hu, Jin Li, Lanlong Ji, Ming Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 67, 2016, págs. 104-110
Robust μ-synthesis Loop Shaping for Altitude Flight Dynamics of a Flying-Wing Airframe.
Fendy Santoso, Ming Liu, Gregory K. Egan
Journal of intelligent & robotic systems: Theory & applications, ISSN 0921-0296, Vol. 79, Nº. 2, 2015, págs. 259-273
Time-Dependent Bridge Network Reliability: Novel Approach
Dan M. Frangopol, Ming Liu
Journal of structural engineering, ISSN 0733-9445, Vol. 131, Nº 2, 2005, págs. 329-337
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