Periodo de publicación recogido
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Qcrit-independent model method for proton SEU analysis
Yancun Li, Dengyun Yu, Qingxiang Zhang, Zhenbo Cai, Xiaoyu Jia, Ying Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 93, 2019, págs. 72-80
Simulation study of single event effects in the SiC LDMOS with a step compound drift region
Meng-tian Bao, Ying Wang, Xing-ji Li, Chao-ming Liu, Cheng-hao Yu, Fei Cao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 170-178
Ying Wang
Applied physics letters, ISSN 0003-6951, Vol. 85, Nº. 21, 2004, págs. 4848-4850
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