A Circuit for Concurrent Detection of Soft and Timing Errors in Digital CMOS ICs

• Autores: S. Matakias, A. Arapoyanni, T. Haniotakis, Y. Tsiatouhas
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2004, págs. 523-531
• Idioma: inglés
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