Consideración del esquema de muestreo no convencional como parámetro de diseño para controladores tipo P-I-D

• Autores: Julián José Salt Llobregat, Artemio Cuenca Payá
• Localización: XXV Jornadas de Automática: Ciudad Real, 8, 9, y 10 de septiembre de 2004, 2004, ISBN 84-688-7460-4, pág. 40
• Idioma: español
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• Resumen

  • Este artículo se marca como objetivo principal la posibilidad de considerar el esquema de muestreo no convencional como un parámetro más de diseño.

    Para ello, partiendo de un sistema de control en el que el controlador es de tipo P-I-D, la idea será tratar de hacer una valoración cualitativa de los parámetros kp, ti y td de dicho controlador con el fin de hacer compatibles escenarios de muestreo no convencional con escenarios monofrecuenciales en los que se varíe el valor de los parámetros de partida del P-I-D. De esta manera, en un sistema de control monofrecuencia (en el que se han variado aquellos parámetros) se podrán obtener comportamientos similares a los alcanzables en uno con muestreo no convencional. Para llevar a cabo el objetivo va a ser de gran ayuda el estudio de la ubicación de los polos y ceros del sistema de control dentro del conocido Mapa de Polos y Ceros (MPC).