Resumen de Partikula-azeleragailuei zuzendutako diagnostiko eta kontrolteknika aurreratuak

I. Badillo, Josu Jugo García, Joaquin Portilla Rubín, J. Feuchtwanger, C. San Vicente, Víctor Etxebarria Ecenarro

• Lan honek partikula-azeleragailuei zuzenduriko diagnostiko eta kontrolerako teknika aurreratuakaukezten ditu. Alde batetik, sorta-posizioaren monitorea (BPM, Beam Postion Monitor ingelesez)deritzon diagnostiko tresna baten garapena eta horrekin egindako saiakerak deslribatzen dira. Bestetik,maila baxuko RF (LLRF, Low Level-RF ingelesez) izeneko kontrol sistema digital baten garapena etahura balidatzeko laborategi-montaia aurkezten da. Honekin batera, seinale azkarrak lagintzeak etaprozesatzeak dakarren kostua arintzeko, azpilaginketa izeneko teknika berritzailea eta berarekin lanegiteko garatutako metodologia aurkezten da.