Partikula-azeleragailuei zuzendutako diagnostiko eta kontrolteknika aurreratuak

• I. Badillo ^[1] ; J. Jugo ^[1] ; J. Portilla ^[1] ; J. Feuchtwanger ^[1] ; C. San Vicente ^[1] ; V. Etxebarria ^[1]
  1. [1] Euskal Herriko Unibertsitatea/Universidad del País Vasco
• Localización: I. IkergazteNazioarteko ikerketa euskaraz. Kongresuko artikulu-bilduma: 2015eko maiatzaren 13, 14 eta 15a. Durango, Euskal Herria / Iñaki Alegría Loinaz (ed. lit.), Ainhoa Latatu (ed. lit.), Miren Josu Ormaetxeberria (ed. lit.), 2015, ISBN 978-84-8438-539-4, págs. 557-563
• Idioma: euskera
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Resumen

  • Lan honek partikula-azeleragailuei zuzenduriko diagnostiko eta kontrolerako teknika aurreratuakaukezten ditu. Alde batetik, sorta-posizioaren monitorea (BPM, Beam Postion Monitor ingelesez)deritzon diagnostiko tresna baten garapena eta horrekin egindako saiakerak deslribatzen dira. Bestetik,maila baxuko RF (LLRF, Low Level-RF ingelesez) izeneko kontrol sistema digital baten garapena etahura balidatzeko laborategi-montaia aurkezten da. Honekin batera, seinale azkarrak lagintzeak etaprozesatzeak dakarren kostua arintzeko, azpilaginketa izeneko teknika berritzailea eta berarekin lanegiteko garatutako metodologia aurkezten da.