Layer Contour Characterization in Additive Manufacturing Through Image Binarization

• Autores: David Blanco Fernández, Adrián Fernández Roig, Pedro Fernández Álvarez, Braulio José Álvarez Álvarez, Fernando Peña Cambón
• Localización: Manufacturing Engineering Society International Conference, MESIC 9: Gijόn, 2021, Spain, June 23-24-25 / José Carlos Rico Fernández (ed. lit.), Eduardo Cuesta González (ed. lit.), Gonzalo Valiño Riestra (ed. lit.), Victor Manuel Meana Díaz (ed. lit.), Pedro Fernández Álvarez (ed. lit.), 2021, ISBN 9788409292295, págs. 110-110
• Idioma: inglés
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