Determining the Required Cleanliness Level Using Synthetic Test Contamination

• Autores: Patrick Brag, V. Piotter, K. Plewa, S. Umbach, M. Herzfeldt
• Localización: Manufacturing Engineering Society International Conference, MESIC 9: Gijόn, 2021, Spain, June 23-24-25 / José Carlos Rico Fernández (ed. lit.), Eduardo Cuesta González (ed. lit.), Gonzalo Valiño Riestra (ed. lit.), Victor Manuel Meana Díaz (ed. lit.), Pedro Fernández Álvarez (ed. lit.), 2021, ISBN 9788409292295, págs. 115-115
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)