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[1]
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Hiroshima University
Hiroshima University
Naka-ku,
Japón
[2]
Nagoya University
Nagoya University
Naka-ku,
Japón
Localización:
SiGe and Ge
:
materials, processing, and devices
/
D. Harane
(
dir. congr.
), 2006,
ISBN
978-1-62332-186-4,
págs.
423-430
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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