Ayuda
Ir al contenido

Dialnet


Pre-Amorphization and Low-Temperature Implantation for Efficient Activation of Implanted As in Ge(100)

  • H. Murakami [1] ; S. Hamada [1] ; T. Ono [1] ; K. Hashimoto [1] ; A. Ohta [2] ; H. Hanafusa [1] ; S. Higashi [1] ; S. Miyazaki [2]
    1. [1] Hiroshima University

      Hiroshima University

      Naka-ku, Japón

    2. [2] Nagoya University

      Nagoya University

      Naka-ku, Japón

  • Localización: SiGe and Ge: materials, processing, and devices / D. Harane (dir. congr.), 2006, ISBN 978-1-62332-186-4, págs. 423-430
  • Idioma: inglés
  • Texto completo no disponible (Saber más ...)

Fundación Dialnet

Dialnet Plus

  • Más información sobre Dialnet Plus

Opciones de compartir

Opciones de entorno