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Challenges and Developments in GeSn Process Technology for Si Nanoelectronics

  • S. Zaima [1] ; O. Nakatsuka [1] ; N. Taoka [1] ; K. Kato [1] ; W. Takeuchi [1] ; M. Sakashita [1]
    1. [1] Nagoya University

      Nagoya University

      Naka-ku, Japón

  • Localización: SiGe and Ge: materials, processing, and devices / D. Harane (dir. congr.), 2006, ISBN 978-1-62332-186-4, págs. 147-154
  • Idioma: inglés
  • Texto completo no disponible (Saber más ...)

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