Electro-Thermal Characterization of SiGe HBT PA-Cells

• T. Zimmer ^[1] ; M. Weiß ^[2] ; C. Maneux ^[1] ; S. Fregonese ^[3] ; M. De Matos ^[1]
  1. [1] University of Bordeaux

     University of Bordeaux

     Arrondissement de Bordeaux, Francia

     
  2. [2] XMOD Technologies
  3. [3] CNRS

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• Localización: SiGe and Ge: materials, processing, and devices / D. Harane (dir. congr.), 2006, ISBN 978-1-62332-186-4, págs. 295-302
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)