Resumen de Medida Multiespectral de la Reflectancia Especular para la Identificación Automatizada de Menas: Base de Datos del Sistema AMCO

Úrsula Grunwald Romera, Juan Carlos Catalina Hernández, David Alarcón, Paula Romero Ovalle, Alfredo López, Ricardo Castroviejo Bolívar

• Se presenta en este trabajo la base de datos de reflectancias multiespectrales elaborada para su aplicación a la identificación automatizada de menas metálicas por el sistema AMCO (Automated Microscopic Characterization of Ores), desarrollado en el proyecto I+D+i financiado por EIT RawMaterials (EIT nº 15039) y descrito en Catalina et al., 2019.