Úrsula Grunwald Romera, Juan Carlos Catalina Hernández, David Alarcón, Paula Romero Ovalle, Alfredo López, Ricardo Castroviejo Bolívar
Se presenta en este trabajo la base de datos de reflectancias multiespectrales elaborada para su aplicación a la identificación automatizada de menas metálicas por el sistema AMCO (Automated Microscopic Characterization of Ores), desarrollado en el proyecto I+D+i financiado por EIT RawMaterials (EIT nº 15039) y descrito en Catalina et al., 2019.
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