Se presenta en este trabajo la base de datos de reflectancias multiespectrales elaborada para su aplicación a la identificación automatizada de menas metálicas por el sistema AMCO (Automated Microscopic Characterization of Ores), desarrollado en el proyecto I+D+i financiado por EIT RawMaterials (EIT nº 15039) y descrito en Catalina et al., 2019.
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