Evidence for ferroelectric border traps near the SrBi~2Ta~2O~9/Si interface through capacitance-voltage measurement

• Autores: W. P. Li, R. Zhang
• Localización: Journal of dairy science, ISSN 0022-0302, Vol. 83, Nº 7, 2000, págs. 564-566
• Idioma: inglés
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