Resumen de Caracterización de superficies texturadas de silicio mediante el uso de un reflectómetro diferencial.
A. Marel, C. Arencibia, M. García
En este trabajo se utiliza la medición de la distribución espacial de la luz reflejada para la caracterización de superficies texturadas de silicio monocristalino y se describe el instrumento construido por nosotros para ese fin, al cual denominaremos Reflectómetro Diferencial. Este equipo mide el flujo luminoso reflejado por la muestra en cualquier dirección espacial y diferentes longitudes de onda. Usando este método se explican los valores y peculiaridades de la reflectancia.
