Análisis de sensibilidad en filtros de corrientes conmutadas

• Autores: Alberto Yúfera García, Adoración Rueda Rueda, José Luis Huertas Díaz
• Localización: Actas del IX Congreso de Diseño de Circuitos Integrados, 9, 10 y 11 de noviembre de 1994, Maspalomas, Gran Canaria, 1994, págs. 385-390
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se presenta un estudio de la influencia de las principales fuentes de error en circuitos de corrientes conmutadas (SI) sobre el comportamiento de filtros de onda analógicos (WAF) SI. Se consideran dos fuentes de error: el despareamiento entre transistores en espejos de corriente y la inyección de carga en las llaves analógicas (feedthrough). Se han modelado dichos errores en los bloques básicos de los WAF, aplicando los modelos al estudio de la sensibilidad de un filtro paso de baja de orden 3. El análisis de sensibilidad presentado se basa en el método de Monte Carlo y se ejecuta mediante un simulador de comportamiento, WAVER, que hemos desarrollado. Los resultados obtenidos demuestran que los errores debidos a la inyección de carga son predominantes.