Sensor BIC con tensión de referencia implícita: una nueva posibilidad para el test por corriente

• Autores: Emili Lupon, Cristina Martínez
• Localización: Actas del IX Congreso de Diseño de Circuitos Integrados, 9, 10 y 11 de noviembre de 1994, Maspalomas, Gran Canaria, 1994, págs. 281-286
• Idioma: español
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• Resumen

  • En esta comunicación se presenta un sensor de corriente incorporado para la detección y memorización de fallos en circuitos CMOS. Su funcionamiento está basado en la comparación de una tensión dependiente de la corriente de reposo y una tensión de referencia que está implícita en el sensor (tensión umbral). Se analizan la dependencia de la tensión umbral con la geometría del sensor, la respuesta temporal y la distorsión de la tensión de alimentación. Asimismo, se comparan los resultados del test funcional y del test por corriente para defectos tipo puente con diferentes resistencias.