Resumen de Análisis de la respuesta en el test de Iddt en circuitos integrados mixtos
J. Argüelles, M. Martínez, Salvador Bracho
En este artículo se propone un procedimiento unificado para la detección de fallos en circuitos integrados mixtos a través del empleo de técnicas de diseño para test de consumo dinámico de intensidad. Se hace uso de sensores internos para observar el comportamiento dinámico del consumo de intensidad a través del circuito bajo test. Nuestra propuesta permite utilizar un equipo automático de test digital convencional para realizar el test de un circuito mixto con las partes analógica y digital funcionando simultáneamente.
