En este artículo se propone un procedimiento unificado para la detección de fallos en circuitos integrados mixtos a través del empleo de técnicas de diseño para test de consumo dinámico de intensidad. Se hace uso de sensores internos para observar el comportamiento dinámico del consumo de intensidad a través del circuito bajo test. Nuestra propuesta permite utilizar un equipo automático de test digital convencional para realizar el test de un circuito mixto con las partes analógica y digital funcionando simultáneamente.
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