Análisis de la respuesta en el test de Iddt en circuitos integrados mixtos

• Autores: J. Argüelles, M. Martínez, Salvador Bracho
• Localización: Actas del IX Congreso de Diseño de Circuitos Integrados, 9, 10 y 11 de noviembre de 1994, Maspalomas, Gran Canaria, 1994, págs. 287-292
• Idioma: español
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• Resumen

  • En este artículo se propone un procedimiento unificado para la detección de fallos en circuitos integrados mixtos a través del empleo de técnicas de diseño para test de consumo dinámico de intensidad. Se hace uso de sensores internos para observar el comportamiento dinámico del consumo de intensidad a través del circuito bajo test. Nuestra propuesta permite utilizar un equipo automático de test digital convencional para realizar el test de un circuito mixto con las partes analógica y digital funcionando simultáneamente.