Sample size, number of failure requirements for demonstration tests with log-location-scale distributions and failure censoring

• Autores: Scott W McKane, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
• Localización: Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 51, Nº. 2, 2006, págs. 163-166
• Idioma: inglés
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