Research on the mechanism of flash line defect in coining.

• Autores: W. Zhong, Y. Liu, Y. Hu, S. Li, M. Lai
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 63, Nº. 9-12, 2012, págs. 939-953
• Idioma: inglés
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