Application of single-slit diffraction to measure Young's modulus

• Autores: B. Sutar, K. P. Singh, D. Zollman, Ashok Mody
• Localización: Latin-American Journal of Physics Education, ISSN-e 1870-9095, Vol. 4, Nº. 3, 2010
• Idioma: inglés
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• Resumen
  • español

    Demostramos una aplicación de la difracción de láser por una sola ranura para medir el módulo de Young del material de un cable. La norma de aparatos de Searle se ha modificado para explotar la sensibilidad del patrón de difracción de los cambios en la anchura de rendija de la orden de longitudes de onda del láser producido por elongaciones micro en el cable cuando se le aplica un esfuerzo. El experimento se realiza con láseres diferentes, así como para alambres de diferentes materiales y produce resultados con resultados con un error de bajo por ciento.

  • English

    We demonstrate an application of the laser diffraction by a single-slit to measure the Young's modulus of the material of a wire. The standard Searle's apparatus is modified to exploit the sensitivity of the diffraction pattern for changes in slit widths of the order of laser wavelengths produced by micro elongations in the wire when a stress is applied to it.

    The experiment is performed using different lasers as well as for wires of different materials and produces results with an error of few percent.