Temperature and Illumination Dependence of AIGaN/GaN HFET Threshold Voltage

• Autores: J. P. Ao, Y. Ohno, K. Okada, R. Takaki, D. Kikuta
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 7, 2006, pág. 1042
• Idioma: inglés
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